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Cornils, Martin:
ISBN 9783899599329
Sheet Resistance and Hall Mobility Determination Beyond van der Pauw. MEMS Technology and Engineering Vol. 12 # Pb., 210 S., Großformat (24 x 17), 64 Abb., 22 Tab.
SCHLAGWORTE:
Van der Poauw Methode
Schichtwiderstand
Hall Mobilität
Konforme Abbildungen
Vier-Punkt-Messung
Hall Sensor
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